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近红外高光谱分析仪采用高光谱成像系统HSI技术-辅光仪器
  • 近红外高光谱分析仪采用高光谱成像系统HSI技术-辅光仪器

近红外高光谱分析仪

近红外高光谱分析仪采用高光谱成像系统(HSI)技术,分析样品化学成分和空间信息的产品信息,特别适合制药,食品等质量检测和异物检查。
型号:
FPIRI-HPR-IR
品牌:
价格:
¥0.00
类别:
在线客服邮箱 info@f-lab.cn 服务热线  021-2279 9028 您也可网站留言或在线客服留言垂询,辅光仪器-规模型进口精密科学仪器供应商欢迎您!

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近红外高光谱分析仪采用高光谱成像系统(HSI)技术,分析样品化学成分和空间信息的产品信息,特别适合制药,食品等质量检测和异物检查。
近红外高光谱分析仪特点
连续实时监测
表面异物检测
掺假检测
不需要制备样品
近红外高光谱分析仪规格参数
速度:60米/分钟
检测能力:30吨/小时
功耗:2000W
传送带:400mm,500mm任选
控制:触摸屏
重量:200kg
尺寸:1.8m x 1.9m x 1m

高光谱成像结果
高光谱的异物发现

高光谱的异物发现
高光谱的异物发现  

 

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