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  • 双面探针台GTL5050解决电路板PCBA双面探测的困难-辅光仪器

    双面探针台 FPGIG-GTL5050

    品牌:进口 价格:0.00
    双面探针台GTL5050旨在解决电路板PCBA双面探测的困难任务。而不是试图用垂直安装的板进行探测。双面探针台GTL5050的构造使其实际上是一个2个探测站。上部探头站和底部探头站具有将整个探头站旋转180度的独特能力，允许在顶部和底部快速设置和预配置探头和测试结构。使用操纵手柄控制的电动定位器可以轻松进行底部调整。
  • 大面积探针台GTL4060适合大面积PCBA探针分析测试-辅光仪器

    大面积探针台 FPGIG-GTL4060

    品牌:进口 价格:0.00
    大面积探针台GTL4060是为较大面积PCBA探针分析测试设计的大面积探针平台,具有*大的测试平台，以容纳中大型测试板，但仍然能够在较小的板、插座、连接器和子组件上工作。
  • 精密探针台GTL4040是PCBA电路板探针平台-辅光仪器

    精密探针台 FPGIG-GTL4040

    品牌:进口 价格:0.00
  • 单射频探针|微波探针GTL用于在BGA|PCB|背板-辅光仪器

    单射频探针 FPGIG-GTL

    品牌:进口 价格:0.00
    单射频探针GTL是一款微波探针,用于在晶圆、封装、BGA、PCB、插座、背板、高密度互连等上进行探测时，可提供卓越的电气性能和无与伦比的耐用性。
  • 脉冲式IV/RF表征系统Auriga AU-5是电流-电压/射频测试系统-辅光仪器

    脉冲式IV/RF测试系统 FPFOC-Auriga-au-5

    品牌:进口 价格:0.00
    脉冲式IV/RF表征系统是为电流-电压测试和射频测试设计的脉冲式电流-电压/射频测试系统,已成为捕获有源器件（如场效应（FET）和双极结（BJTs）晶体管）的电流-电压特性的首选仪器,也是高功率器件如GaN HEMT、LDMOS、SiC，石墨烯、电流和电压测试的理想仪器。
  • 非接触式探针台|非接触式探针测试分析系统在毫米波太赫兹波段IC自动表征-辅光仪器

    非接触式探针台 FPTER-Teraprobe

    品牌:进口 价格:0.00
    这款非接触式探针台是为高频电子设备、IC和材料测试/表征设计的非接触式探针测试分析系统。首次实现了整个毫米波和太赫兹波段电子设备和IC的自动S参数表征。测量范围为55GHz-1.1THz
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